涂膜厚度是影響產品質量、工藝控制和成本控制的重要變量。薄膜厚度的測量可以用許多不同的儀器來完成，確定哪種方法適合給定涂層測量的問題包括涂層類型、基材材料、涂層厚度范圍、零件的尺寸和形狀以及設備成本。

粉末和液體涂料也有一些方法可以在固化前測量薄膜涂料在線coatingol.com。

1.磁性拉斷式測厚儀

磁性拉力計使用永磁體、校準彈簧和刻度尺。磁鐵和磁鋼之間的吸引力將兩者拉到一起。隨著將兩者分開的涂層厚度增加，將磁鐵拉開變得更容易。涂層厚度是通過測量該拉脫力來確定的。較薄的涂層將具有更強的磁吸引力，而較厚的薄膜將具有相對較小的磁吸引力。使用磁力計進行測試對表面粗糙度、曲率、基板厚度和測試材料的成分很敏感。

磁性拉力計堅固、簡單、便宜、便攜，通常不需要任何校準調整。在質量目標在生產過程中只需要少量讀數的情況下，它們是一種很好的低成本替代方案。

拉力計通常是鉛筆型或回滾表盤型號。鉛筆型儀表型號使用安裝在螺旋彈簧上的磁鐵，該螺旋彈簧垂直于涂層表面工作。大多數鉛筆式拉力計都有大磁鐵，設計為只能在一個或兩個位置工作，這部分地補償了重力。更精確的版本可使用微小、精確的磁鐵在難以觸及的小表面上進行測量。當儀表指向下方、上方或水平時，三重指示器可確保準確測量，公差為 ±10%。

回滾表盤模型是最常見的磁性拉斷量規形式。一塊磁鐵連接到一個旋轉平衡臂的一端，并連接到一個校準的游絲上。通過用手指旋轉表盤，彈簧會增加磁鐵上的力并將其從表面拉出。這些儀表易于使用，并具有平衡臂，可讓它們在任何位置工作，不受重力影響。它們在爆炸性環境中是安全的，通常由涂裝承包商和小型粉末涂料操作使用。典型容差為 ±5%。

2.磁和電磁感應儀器

磁感應儀器使用永磁體作為磁場源?；魻栃l生器或磁電阻器用于感測磁體磁極處的磁通密度。電磁感應儀器使用交變磁場。用細線線圈纏繞的軟鐵磁棒用于產生磁場。第二線圈用于檢測磁通量的變化。

這些電子儀器測量磁性探頭靠近鋼表面時其表面的磁通密度變化。探頭表面通量密度的大小與與鋼基板的距離直接相關。通過測量通量密度，可以確定涂層厚度。

電子磁力計有多種形狀和尺寸。他們通常使用恒壓探頭來提供不受不同操作員影響的一致讀數。讀數顯示在液晶顯示器 (LCD) 上。他們可以選擇存儲測量結果，對讀數進行即時分析，并將結果輸出到打印機或計算機以供進一步檢查。典型容差為 ±1%。

應仔細遵循制造商的說明以獲得最準確的結果。ASTM D7091、ISO 2178和ISO 2808中提供了標準測試方法。

3.渦流測厚儀

渦流技術用于無損測量有色金屬基材上非導電涂層的厚度。傳導高頻交流電（1 MHz 以上）的細線線圈用于在儀器探頭的表面建立交變磁場。當探頭靠近導電表面時，交變磁場將在表面上產生渦流?；奶匦院吞筋^與基材的距離（涂層厚度）會影響渦流的大小。渦流會產生它們自己的相反電磁場，勵磁線圈或相鄰的第二個線圈可以感應到該電磁場。

渦流涂層測厚儀的外觀和操作類似于電子磁性測量儀。它們用于測量所有有色金屬的涂層厚度。與磁性電子儀表一樣，它們通常使用恒壓探頭并在 LCD 上顯示結果。他們還可以選擇存儲測量結果或對讀數進行即時分析并輸出到打印機或計算機以供進一步檢查。典型容差為 ±1%。測試對表面粗糙度、曲率、基材厚度、金屬基材類型和與邊緣的距離很敏感。

ASTM B244和ISO 2360中提供了該測試的應用和性能的標準方法?，F在，儀表將磁原理和渦流原理結合到一個單元中是很常見的。有些通過根據基材自動從一種操作原理切換到另一種操作原理來簡化測量任何金屬上的大多數涂層的任務。

4.超聲波測厚儀

超聲波測厚儀的超聲波脈沖回波技術用于在不損壞涂層的情況下測量非金屬基材（塑料、木材等）上涂層的厚度。

儀器的探頭包含一個超聲波換能器，它通過涂層發送脈沖。脈沖從基板反射回換能器并轉換為高頻電信號?；夭úㄐ伪粩底只头治鲆源_定涂層厚度。在某些情況下，可以測量多層系統中的各個層。

該器件的典型容差為 ±3%。ASTM D6132中提供了該測試的應用和性能的標準方法。

5.千分尺測厚儀

千分尺有時用于檢查涂層厚度。它們具有測量任何涂層/基材組合的優點，但缺點是需要接觸裸露的基材。接觸涂層表面和基材底面的要求可能會受到限制，而且它們通常不夠靈敏，無法測量薄涂層。

必須進行兩次測量：一次有涂層，另一次沒有。兩個讀數之間的差異，即高度變化，被認為是涂層厚度。在粗糙表面上，千分尺測量最高峰值以上的涂層厚度。

6.破壞性測試

一種破壞性厚度技術是在橫截面上切割涂層部分，并通過使用光學顯微鏡觀察切口來測量薄膜厚度。另一種橫截面技術使用比例顯微鏡通過干膜涂層觀察幾何切口。精密切割輪用于制作穿過涂層并進入基材的小而精確的 V 形槽?？商峁┡鋫淝懈罴舛撕驼彰鞣糯箸R的量規。

雖然這種破壞性方法的原理很容易理解，但仍有測量誤差的機會。準備樣品和解釋結果需要技巧。將測量標線調整到鋸齒狀或模糊的界面可能會產生不準確，尤其是在不同操作員之間。當無法使用廉價的非破壞性方法或作為確認非破壞性結果的一種方式時，使用此方法。ASTM D4138概述了該測量系統的標準方法。

7.X射線熒光法

X 射線熒光是一種非破壞性和非接觸式方法，用于確定層厚度并根據 DIN 到 DIN EN ISO 3497 對金屬涂層材料進行材料分析。該方法可以定義層厚度和各個層的成分，多層和合金層。

8.重量式測厚儀

通過測量涂層的質量和面積，可以確定厚度。最簡單的方法是在涂層前后對零件進行稱重。確定質量和面積后，使用以下公式計算厚度：

T = (mx 10) / (A xd)

其中 T 是以微米為單位的厚度，m 是以毫克為單位的涂層質量，A 是以平方厘米為單位的測試面積，d 是以克每立方厘米為單位的密度。

當基材粗糙或涂層不均勻時，很難將涂層的質量與厚度聯系起來。實驗室最有能力處理這種耗時且通常具有破壞性的方法。

固化前的厚度測量

濕膜厚度 (WFT) 測量儀有助于確定需要多少濕材料才能達到指定的干膜厚度，前提是已知固體的體積百分比。它們測量所有類型的濕有機涂層，例如平坦或彎曲光滑表面上的油漆、清漆和清漆。

在應用過程中測量濕膜厚度表明需要由應用程序立即校正和調整。在薄膜干燥或化學固化后對其進行修正需要耗費大量額外的勞動時間，可能導致薄膜污染，并可能導致涂層附著力和涂層系統完整性問題。

確定正確的濕膜厚度 (WFT) 的公式，無論有沒有稀釋劑，如下所示：

沒有稀釋劑：

WFT =（所需干膜厚度）/（固體體積百分比）

用稀釋劑：

WFT = (所需干膜厚度 / 固體體積百分比) / (100% + 添加的稀釋劑百分比)

濕膜最常使用濕膜梳或輪測量。濕膜梳是一塊扁平的鋁板、塑料板或不銹鋼板，每個面的邊緣都有校準槽口。在涂層應用后立即將量規平直牢固地放置在要測量的表面上，然后將其取下。濕膜厚度位于最高涂層缺口和下一個未涂層缺口之間。缺口量規測量既不準確也不靈敏，但它們可用于確定尺寸和形狀禁止使用更精確方法的物品上涂層的近似濕膜厚度。（參見ASTM D1212。）

量規應用于光滑的表面，沒有不規則性，并且應沿曲面的長度而不是寬度使用。在快干涂層上使用濕膜測量儀會產生不準確的測量結果。ASTM D4414概述了用缺口規測量濕膜厚度的標準方法。

濕膜輪（偏心輥）使用三個圓盤。量規在濕膜中滾動，直到中心圓盤接觸濕膜。它接觸的點提供了濕膜厚度。粉末涂料可以在固化之前使用簡單的手持梳子或超聲波測量儀進行測量。未固化粉末膜梳的工作方式與濕膜量規大致相同。梳子被拖過粉膜，厚度介于留下標記且有粉末附著在其上的編號最高的牙齒與未留下標記且沒有粉末附著于其上的第二高的牙齒之間。這些量規相對便宜，精度為 ±5 mm。它們僅適合作為指導，因為固化膜在流動后可能會有所不同。量規留下的痕跡可能會影響固化膜的特性。

超聲波設備可以無損地用于光滑金屬表面上的未固化粉末，以預測固化膜的厚度。探頭位于距離待測表面很近的位置，讀數顯示在設備的 LCD 上。測量不確定度為±5 mm。